功能特点
- 通过电子光学系统、真空系统与样品机构配合，开展表面扫描成像。
- 围绕样品材料与特征尺寸选择适合的观察条件。
- 可根据分析目标与使用环境沟通适合的产品类型。
产品信息
| 资料所示品牌 | 日立 |
|---|---|
| 设备类型 | 扫描电子显微镜 SEM |
| 主要功能 | 样品表面微观形貌观察 |
| 应用领域 | PCB、半导体、科研与工业分析 |
设备外观与配置以具体型号及最终技术方案为准。第三方品牌与商标归其各自权利人所有。
应用与选型
适用于材料表面与微观结构分析。分辨能力取决于具体型号、工作条件和样品，应依据原厂规格与样品试验确定。
沟通样品与检测需求